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3380P測試儀
l最大數據傳輸率：100MHz
l最大I/OPIN：512通道
l同測數：可最大512DUT并行測試
l測量向量深度：32M/64M/128M
STS8200B測試儀
l最大數據傳輸率5MHz
l數模混合測試儀，模擬電壓最大可支持-1000V~+1000V
l可最大16/32DUT并行測試
l可擴展性高，覆蓋面廣，可提供模擬，線性，電源管理類，音頻，模擬開關
TR6850測試儀
l最大數據傳輸率33MHz,分辨率3.3ns
l數模混合測試儀，模擬電壓最大可支持-45V~+100V
l最大I/OPIN：256通道
l每個通道可以單獨設置輸入電平（VIH/VIL）
l每個通道可以單獨設置比較電平（VOH/VOL）
l 每個通道均可單獨設置時鐘調制模式。
l每個通道均可單獨設置TG
l每個通道均可進行時間參數測量
l可最大8DUT同時并行測試
l測量向量深度最大8M
TR6836測試儀
l最大數據傳輸率33MHz,分辨率3.3ns
l最大I/OPIN：384通道
l每個通道可以單獨設置輸入電平（VIH/VIL）
l每個通道可以單獨設置比較電平（VOH/VOL）
l 每個通道均可單獨設置時鐘調制模式。
l每個通道均可單獨設置TG
l每個通道均可進行時間參數測量
l可最大8DUT同時并行測試
l測量向量深度最大8M
P12XL探針臺
l日本TEL生產
l測試8”~12”晶圓
l精度高（300mm內精確度為±2um）
l自動化程度高，配備先進的CCD圖形掃描技術，
機器自動上下片
l穩(wěn)定性好
UF200SA探針臺
l日本TSK生產
l測試5”~8”晶圓
l精度高（200mm內精確度為±2um）
l自動化程度高，配備先進的CCD圖形掃描技術，機器自動上下片
l穩(wěn)定性好
